Harsh environment interconnection technology for three-dimensional packaging

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Bickel, Jan; Scherer, Joachim; Schneider-Ramelow, Martin; Lang, Klaus-Dieter; Ngo, Ha Duong: Harsh environment interconnection technology for three-dimensional packaging. In: iMaps Plus 2/2022, PLUS Elektronikfertigung. (2022), S. 1-2.

ISSN

1436 - 7505

Link

https://www.leuze-verlag.de/fachzeitschriften/plus/item/5158-imaps-02-2022?dt=1652700718328

Sprache

Englisch

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