Passivation of ultrathin SiOx/c-Si interfaces: Analysis of electronic and chemical properties by x-ray photoelectron spectroscopy and surface photovoltage measurements

Veranstaltungsbeitrag › Vortrag › 2015

Veranstaltung

18. Tagung Festkörperanalytik
Wien, 06.07.2015 - 08.07.2015

Ergänzende Angaben

Vortrag (B. Stegemann, P. Balamou, K. M. Gad, D. Vössing, M. Kasemann, H. Angermann)

Homepage

https://www.tuwien.ac.at/aktuelles/news_detail/article/9565/