Surface photovoltage (SPV) measurements for quantifying electronic defect densities at ultrathin-SiO2/Si interfaces

Veranstaltungsbeitrag › Vortrag › 2016

Veranstaltung

19. Arbeitstagung Angewandte Oberflächenanalytik - Special Topic »Surface meets Light«
Fraunhofer-Anwendungszentrum für Anorganische Leuchtstoffe in Soest, 05.09.2016 - 07.09.2016

Ergänzende Angaben

Vortrag (Bert Stegemann, Patrice Balamou, Heike Angerman)

Homepage

http://www.awz-soest.fraunhofer.de/de/veranstaltungen/aofa2016.html