Aufbauend auf einem vorangegangenen Projekt wurde für ein Referenzgeber-Gehäuse ein X-Ray Fluorescence Spectrometer (XRF) in Raumsonden im Rahmen von einem studentischen Konstruktions-Team konzipiert und konstruktiv gestaltet.

Das XRF dient der Analyse der chemischen Zusammensetzung des Oberflächengesteins von Planetenmonden. Als Messprinzip wird die Technologie der Röntgenfluoreszenzanalyse eingesetzt. Die Anregung geschieht durch den Einfall des natürlichen Röntgenanteils der Sonnenstrahlung auf die oberste Mondschicht. Durch den Photoeffekt wird weiche Röntgenstrahlung als charakteristische Röntgen-Fluoreszenz der im Bodenmaterial vorkommenden chemischen Elemente zurückgestreut. Aus der entstehenden Intensitätsverteilung im Spektrum kann die Elementverteilung im Mondboden in den genannten Bereichen bestimmt werden.

Um das XRF auf die vorhandene Röntgenstrahlung zu kalibrieren, ist ein Referenzsignal eines bekannten Probenkörpers erforderlich. Ziel des Projektes war es, ein Gehäuse für die Probenkörper und die Referenz-messende Elektronik zu entwickeln, indem Gestaltungskonzepte entwickelt, verglichen und konstruktiv gestaltet werden.

• Prof. Dr.-Ing. Matthias Dahlmeyer (Projektleitung)

• Freie Universität Berlin, Planetologie / Fernerkundung (Prof. van Gasselt)