Quantitative Analysis of Pyramid Textured Silicon Wafers and Size Dependence of Optical and Electronic Properties

Typ

Beitrag Konferenzband von Prof. Dr. Bert Stegemann

Zitation

Kegel, Jan ; Angermann, Heike ; Stürzebecher, Uta ; Conrad, Erhard ; Stegemann, Bert : Quantitative Analysis of Pyramid Textured Silicon Wafers and Size Dependence of Optical and Electronic Properties. In: Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (DPG), S. 318-319 (Abstract), Bad Honnef, 2013, ISSN 0420-0195