Messtechnik in Museen und Sammlungen – Erfassung und Überwachung von Umgebungsparametern unter Berücksichtigung konservatorischer Fragestellungen

Typ

Fachbeitrag von/mit Prof. Dr. phil. Alexandra Jeberien

Veranstaltung

16. Nachwuchswissenschaftlerkonferenz, Hochschule für Technik und Wirtschaft (HTW) Berlin

Datum

16.4.2015