Photoconductivity analysis of ultrathin a-Si:H layers and Si/SiO2 quantum well structures

Veranstaltungsbeitrag › Posterpräsentation › 2009

Veranstaltung

23rd International Conference on Amorphous and Nanocrystalline Semiconductors (ICANS23)
Utrecht, The Netherlands, 23.08.2009 - 28.08.2009

Ergänzende Angaben

Poster M. Schmidt, T.F. Schulze, A. Schoepke, B. Stegemann

Homepage