Zum Hauptinhalt / Skip to main content

Atomic Force Microscopy for Electrical Characterization of Silicon Quantum Dots for High-Efficiency Solar Cells

Veranstaltungsbeitrag › Posterpräsentation › 2011

Veranstaltung

2nd International Workshop on Advanced Atomic Force Microscopy Techniques
Karlsruhe Institute of Technology (KIT), 28.02.2011 - 01.03.2011

Ergänzende Angaben

Poster B. Stegemann, T. Lussky, A. Schöpke, J. Čermák, B. Rezek, J. Kočka, M. Schmidt

Homepage

http://www.imt.kit.edu/afm.php

Zugehörige Publikationen